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+2020-07-28
+全面升級XU-100鍍層測厚儀高精尖檢測技術(shù),搞定企業(yè)品質(zhì)管控!XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。?檢測各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,最小測量面積0.2mm²,凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm,是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。應(yīng)用行業(yè):電鍍層分析緊固
全面升級XD-1000全自動智能X熒光光譜測厚儀XD-1000上照式光譜測厚儀,XD-1000鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件,如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù),人機(jī)交互全面優(yōu)化,操作更加方便快捷。
毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測厚儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。半導(dǎo)體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測儀
毛細(xì)管檢測電鍍鍍層厚度儀 高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。半導(dǎo)體集成電路行業(yè)電鍍鉑厚度檢測儀
XAU-4CS化學(xué)鍍鎳/浸金(ENIG)系列光譜分析儀是一款專門為細(xì)小部件測量鍍層量身打造的精密儀器,擁有*高清CCD可以變焦配置,可以測試凹槽產(chǎn)品;擁有精密的瑞士移動滑軌,可以精確定位任何小樣品的測試點,方便快捷;擁有算法EFP法,不但使用了光譜發(fā)射法計算,同時也使用了光譜吸收法計算,即使是以往設(shè)備的難題,同一金屬鍍了兩層,我們也能精確測量。