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全面升級XD-1000全自動智能X熒光光譜測厚儀XD-1000上照式光譜測厚儀,XD-1000鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件,如線路?板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù),人機交互全面優(yōu)化,操作更加方便快捷。
毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測厚儀、連接器測厚儀 此系列產(chǎn)品可測量金屬準(zhǔn)直無法測量的微區(qū),多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小至5μm,因此可以測量微電子設(shè)備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測量納米級的鍍層,毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上,可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。 可以實現(xiàn)更高的測試精度
柔性線路板X射線膜厚儀 XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm