型號：XTD

X光膜厚儀測厚儀

描述：X光膜厚儀測厚儀是集多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設(shè)計，使測試工作更加輕松完成。貴金屬檢測儀使用高效而實(shí)用的正比計數(shù)盒探測器，以實(shí)在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計，使儀器操作更人性化、更方便。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2024-04-27
訪問量
790

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

X光膜厚儀測厚儀性能特點(diǎn)

專業(yè)貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

X光膜厚儀測厚儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測量重復(fù)性可達(dá)：0.1％。
長期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。
正比計數(shù)盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm
樣品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg